微分干涉(DIC)
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不必考虑相差环及聚光镜环的遮挡,可以实现高数值孔径的物镜观察。这意味着DIC 可以提高轴向分辨率,这在分辨率要求很高的试验中尤其有意义。



产品特点
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1、
不必考虑相差环及聚光镜环的遮挡,可以实现高数值孔径的物镜观察。这意味着DIC 可以提高轴向分辨率,这在分辨率要求很高的试验中尤其有意义。
2、DIC 成像时,决定对比度的首要因素是光通路中的梯度变化(即光波传播方向上的变化率)。梯度大的区域在视野下对比度高,并呈现出“伪立体”效果这是DIC 的特征效果
3、所观察到的样品各组成相间的相对层次关系突出,可以将明视场观察法中无法检测到的高度差异,用增强的对比度以浮雕或三维图像的形式表现出来,对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等能作出正确的判断,能够容易判断许多明场下所看不到的或难于判别的一些结构细节或缺陷
4、适用于检测高度差异极其微小的样本,包括金相组织、矿物、磁头研磨面和硬盘表面及晶圆研磨面。 
 

系统搭配图
 
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可搭配附件

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应用案例

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应用领域

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微分干涉(DIC)广泛应用于工业检测、自动化、电子通讯、半导体、生物医疗、科学研究等领域。

 

   

 

 


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